Life testは、通常、電圧および/または温度を使用して、デバイスの摩耗信頼性障害の出現を加速する電気ストレステストです。 寿命試験の目的は、製品寿命中に摩耗による故障が発生する可能性があるかどうかを評価し、デバイスの長期信頼性要件への適合性を推定するこ
ライフテストは、評価と資格の段階で実行することができ、その目的は、その結果、その期間と特定の要件が異なります。 評価段階では、寿命試験を使用して消耗故障モードを特定することができるため、試験期間を4,000時間または8,000時間に延長することができます。 認定段階では、寿命試験を使用して、デバイスの長期的な性能に影響を与える可能性のある潜在的な欠陥の有無を判断し、試験期間は1,000時間から2,000時間の間で変化します。
試験期間、電圧、温度は、試験に使用される加速係数と検討中の故障モードの活性化エネルギーに依存します。 ただし、特定の監視設定を使用しない限り、最大ジャンクション温度を超えないことを強くお勧めします。
定格運転条件内で実施される寿命試験は、結果が早期故障または”乳児死亡率”の特徴ではないことを保証するために十分に長い試験期間にわたって実施されるべきであり、寿命試験の終了前に定期的に結果を観察し、時間とともに故障率の有意な変動を示す必要がある。
私達は電気テストソフトウェアのテスト回路、バイアス板、適したゼロ挿入力テストソケット、開発、注文テスト据え付け品、資格試験の計画、等を含む私達の自身のハードウェアそしてソフトウェアを、選び、設計し、製造できます。
寿命信頼性試験の性能に関する専門知識により、お客様は基本的な摩耗メカニズムの理解を深め、パラメータドリフトと組み合わせた設計限界を検出し、潜在的な製造欠陥による故障率を決定することができます。 生命信頼性試験は適当なJEDEC、MIL-STDおよびESCCの指定への厳密な付着と遂行されます。
試験装置
生命信頼性試験
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彼はPCBの専門家として働いています&電気測定研究所の領域内のAlter TechnologyのHW設計部門,生産のための技術的な調整とhwソリューションを提供します,PCBの設
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